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发布时间：2022年01月13日 11:33
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双电测四探针测试仪：
该仪器适用于测量片状半导体材料电阻率及硅扩散层、离子注入层、异型外延层等半导体器件和液晶片导电膜、电热膜等薄膜的方块电阻。
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